金屬元素標準片X射線熒光測厚儀標準樣品專(zhuan)業(ye)用(yong)于(yu)(yu)X射線(xian)測厚儀（膜厚儀）在(zai)測金屬鍍(du)(du)層厚度(du)時進行的(de)標準(zhun)(zhun)化校準(zhun)(zhun)及(ji)(ji)建立測試(shi)檔案。也就(jiu)是(shi)我們(men)在(zai)膜厚測試(shi)中常用(yong)的(de)標準(zhun)(zhun)曲線(xian)法(fa)，是(shi)測量已知厚度(du)或組(zu)成的(de)標準(zhun)(zhun)樣品(pin)，根據熒光X-射線(xian)的(de)能量強度(du)及(ji)(ji)相應鍍(du)(du)層厚度(du)的(de)對應關系，來(lai)得(de)到(dao)標準(zhun)(zhun)曲線(xian)。以此標準(zhun)(zhun)曲線(xian)來(lai)測量鍍(du)(du)層樣品(pin)，以得(de)到(dao)鍍(du)(du)層厚度(du)或組(zu)成比率。對于(yu)(yu)PCB、五金電鍍(du)(du)和半導體等行業(ye)使用(yong)測厚儀來(lai)檢測品(pin)質(zhi)和控制(zhi)成本起到(dao)了很重要的(de)作用(yong)。

　　膜厚(hou)(hou)標準片(pian)采用了磁(ci)性(xing)測厚(hou)(hou)法：是一(yi)種(zhong)超小(xiao)型丈(zhang)量儀，它能快速，無損傷，切確地進行鐵(tie)磁(ci)性(xing)金屬基體上的噴涂。電鍍層(ceng)厚(hou)(hou)度的丈(zhang)量。可普遍用于(yu)制造業，金屬加工業，化(hua)工業，商檢等檢測領域。出(chu)格適用于(yu)工程現(xian)場丈(zhang)量。

　　膜厚標準片采(cai)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)感應(ying)原(yuan)理(li)時，利(li)用(yong)(yong)從測(ce)頭(tou)經(jing)過非鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)覆(fu)(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)而(er)流(liu)入鐵(tie)磁(ci)(ci)(ci)(ci)基體的(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)的(de)大(da)小，來(lai)(lai)(lai)測(ce)定覆(fu)(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚度(du)(du)(du)(du)(du)。也可(ke)以(yi)測(ce)定與之對應(ying)的(de)磁(ci)(ci)(ci)(ci)阻的(de)大(da)小，來(lai)(lai)(lai)表示其覆(fu)(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚度(du)(du)(du)(du)(du)。覆(fu)(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)越厚，則磁(ci)(ci)(ci)(ci)阻越大(da)，磁(ci)(ci)(ci)(ci)通(tong)越小。利(li)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)感應(ying)原(yuan)理(li)的(de)測(ce)厚儀，原(yuan)則上(shang)(shang)可(ke)以(yi)有導磁(ci)(ci)(ci)(ci)基體上(shang)(shang)的(de)非導磁(ci)(ci)(ci)(ci)覆(fu)(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚度(du)(du)(du)(du)(du)。如果(guo)覆(fu)(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)材料也有磁(ci)(ci)(ci)(ci)性(xing)，則要求與基材的(de)導磁(ci)(ci)(ci)(ci)率之差足夠大(da)（如鋼上(shang)(shang)鍍(du)鎳(nie)）。當軟芯(xin)上(shang)(shang)繞(rao)著線圈(quan)的(de)測(ce)頭(tou)放在被測(ce)樣(yang)本(ben)上(shang)(shang)時，儀器自動輸出測(ce)試電(dian)流(liu)或(huo)測(ce)試信號(hao)(hao)。早期的(de)產品采(cai)用(yong)(yong)指針式表頭(tou)，測(ce)量感應(ying)電(dian)動勢的(de)大(da)小，儀器將該信號(hao)(hao)放大(da)后(hou)來(lai)(lai)(lai)指示覆(fu)(fu)層(ceng)(ceng)(ceng)厚度(du)(du)(du)(du)(du)。近年來(lai)(lai)(lai)的(de)電(dian)路設(she)(she)計引(yin)(yin)入穩頻、鎖相(xiang)、溫(wen)度(du)(du)(du)(du)(du)補償等地(di)新技術，利(li)用(yong)(yong)磁(ci)(ci)(ci)(ci)阻來(lai)(lai)(lai)調制測(ce)量信號(hao)(hao)。還采(cai)用(yong)(yong)設(she)(she)計的(de)集成電(dian)路，引(yin)(yin)入微機(ji)，使(shi)測(ce)量精度(du)(du)(du)(du)(du)和重現(xian)性(xing)有了大(da)幅(fu)度(du)(du)(du)(du)(du)的(de)提高（幾乎達一(yi)個數量級）。

　　金屬元素標準片X射線熒光測厚儀標準樣品采用二次熒光法：它的原理是物資經X射線或粒子射線照射后，由于吸收過剩的能量而釀成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物資必需將過剩的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度丈量儀或成份分析儀的原理就是丈量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。