X射(she)線鍍層測厚儀的測量方法(fa)(fa)主(zhu)要有(you)：楔(xie)切法(fa)(fa)，光截法(fa)(fa)，電(dian)解(jie)法(fa)(fa)，厚(hou)度差測量法(fa)(fa)，稱重法(fa)(fa)，X射線(xian)熒光法(fa)(fa)， 射線(xian)反向散射法(fa)(fa)，電(dian)容法(fa)(fa)、磁性測量法(fa)(fa)及(ji)渦流測量法(fa)(fa)等(deng)等(deng)。這些方法(fa)(fa)中前五(wu)種是(shi)有(you)損檢測，測量速度慢，多適用(yong)于(yu)抽樣檢驗。
x射(she)線(xian)鍍層測(ce)(ce)厚儀是通過X射(she)線(xian)激發(fa)各(ge)種(zhong)物(wu)質(如(ru)Mo、Ag、Mn)的(de)特(te)征(zheng)X射(she)線(xian)，然后測(ce)(ce)量(liang)這被釋放(fang)出(chu)來的(de)特(te)征(zheng)X射(she)線(xian)的(de)能量(liang)對(dui)樣(yang)(yang)品進(jin)行(xing)進(jin)行(xing)定性，測(ce)(ce)量(liang)這被釋放(fang)出(chu)來的(de)特(te)征(zheng)X射(she)線(xian)的(de)強(qiang)度與(yu)標準(zhun)片(或(huo)者對(dui)比樣(yang)(yang))對(dui)比得出(chu)各(ge)物(wu)質的(de)厚度，這種(zhong)強(qiang)度和厚度的(de)對(dui)應關系(xi)在軟(ruan)件后臺形成曲線(xian)。而各(ge)種(zhong)物(wu)質的(de)強(qiang)度增(zeng)加(jia)，厚度值(zhi)也增(zeng)加(jia)，但(dan)不是直線(xian)關系(xi)；通過標樣(yang)(yang)和軟(ruan)件及算法(算法有(you)FP法和經驗系(xi)數法)得到(dao)一個接近實(shi)際(ji)對(dui)應關系(xi)的(de)曲線(xian)。
x射線鍍層測(ce)厚儀原理(li)
1、原理：X射(she)線照(zhao)射(she)樣品，經過鍍(du)層界面(mian)，射(she)線返回的信號發生突變(bian)，根據理論上同材(cai)質(zhi)**厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍(du)層的厚度。
理論(lun)上(shang)兩(liang)層中含有同一元素(su)測試(shi)很(hen)困難（信號分(fen)不(bu)開）。
2、XRF鍍層(ceng)測厚(hou)儀(yi)(yi)(yi)：俗稱X射線熒光測厚(hou)儀(yi)(yi)(yi)、鍍層(ceng)測厚(hou)儀(yi)(yi)(yi)、膜(mo)厚(hou)儀(yi)(yi)(yi)、膜(mo)厚(hou)測試儀(yi)(yi)(yi)、金鎳厚(hou)測試儀(yi)(yi)(yi)、電鍍膜(mo)厚(hou)儀(yi)(yi)(yi)等(deng)。
功能：精密(mi)測量金屬電(dian)鍍(du)層的厚度。
應用范圍(wei)(wei)：測(ce)量鍍層,涂層,薄膜,液體(ti)的厚度或(huo)組成,測(ce)量范圍(wei)(wei)從22(Ti)到92(U)。
